x射线荧光光谱法进行定量分析的根据是元素的荧光X射线强度Ii与试样中该元素的含量Ci成正比:Ii=Is×Ci式中Is为Ci=100%时，该元素的荧光X射线的强度。
根据上式，可以采用标准曲线法、增量法、内标法等进行定量分析。
但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似，否则试样的基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所造成的影响。
化学组成的变化，会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收，也会改变荧光增强效应。
给X光管施加很高的电压（几千伏到几十千伏），然后在X光管的阴极和阳极之间形成高强度的电场，电子流轰击阳极靶材，产生X射线。
光管产生的X射线通过窗口照射出来，照到样品上面，会对样品元素又进行一次激发，样品元素原子外层电子被X射线打出来，余下的空穴会由更外层的电子进行补充。
在电子补充（跃迁）的过程中，会以光子形式辐射出能量，这种光子就形成了X荧光。
当这种荧光被探测器检测到时，我们就能看到样品中各元素的组成成份。
目前国内X荧光光谱仪器的价格在几万到十来万不等，首先，用于贵金属检测的X荧光光谱仪从29500元到78500元，其中西凡X荧光光谱仪82系列是29500元，西凡95系列是58500，这些X荧光光谱仪的价格都是属于性价比很高的。口碑和市场占有率比较好的，其他的你可以查阅相关资料具体了解。
×荧光光谱仪原理
X 荧光光谱仪主要由激发源( X 射线管)和探测系统构成。其原理就是: X 射线管通过产生入射×射线
(一次×射线),来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次×射线(又叫 X 荧光),并且不同的元素所放射出的二次×射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次×射线的能量及数量或者波长。
然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的 X 射线,因此,只要测出荧光×射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类,这就是荧光×射线定性分析的基础。
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域
X射线衍射仪"可分为"X射线粉末衍射仪"和"X射线单晶衍射仪器".由于物质要形成比较大的单晶颗粒很困难。所以目前X射线粉末衍射技术是主流的X射线衍射分析技术。单晶衍射可以分析出物质分子内部的原子的空间结构。粉末衍射也可以分析出空间结构。但是大分子（比如蛋白质等）等复杂的很难分析。
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。
X射线衍射仪"可分为"X射线粉末衍射仪"和"X射线单晶衍射仪器".由于物质要形成比较大的单晶颗粒很困难。所以目前X射线粉末衍射技术是主流的X射线衍射分析技术。单晶衍射可以分析出物质分子内部的原子的空间结构。粉末衍射也可以分析出空间结构。但是大分子（比如蛋白质等）等复杂的很难分析。
荧光物质如钨酸钙，在ⅹ射线照射下引起其物质原子的激发，当被激发的原子恢复到基态时，释放出可见荧光的现象。因为ⅹ射线是由光子构成，光子是含有一定能量的，当荧光物质吸收能量，原子发生跃迁，到达高能级后，经过较短时间又跃迁回基态，就会释放出一定波长的光子，在可见光范围内的，就成为荧光
3.3.1 零点校准
(a) 在基体上进行一次测量，屏幕显示＜×.×μm＞。
(b) 按 键，屏显<0.0>。校准已完成，可以开始测量了。
(c) 重复上述a、b步骤可获得更为精确的零点，高测量精度。零点校准完成后就可进行测量了。
3.3.2 二点校准
3.3.2.1 一试片法 这一校准法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。
(a) 先校零点（如上述）。
(b) 在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量,屏幕显示＜×××μm＞。
(c) 用 或 键修正读数，使其达到标准值。校准已完成可以开始测量了。
注意:1.即使显示结果与标准片值相符，按 或 键也是的，例如按一次 一次 。这一点适用于所有校准方法。
2. 如欲较准确地进行二点校准，可重复b、c过程，以提高校准的精度，减少偶然误差。
3.3.2.2 二试片法
两个标准片厚度至少相差三倍。待测覆盖层厚度应该在两个校准值之间。这种方法尤其适用于粗糙的喷沙表面和高精度测量。
(a) 先校零值;
(b) 在较薄的标准片上进行一次测量，用 或 键修正读数，使其达到标准值;
(c) 紧接着在厚的一个样片上进行一次测量，用 或 键修正读数，使其达到标准值。校准已完成，可以开始测了
X线胶片是为X射线照相而设计的照相胶片。大致分为直接摄影用(增感屏型和无增感屏型)和间接摄影用胶片两类。
一种电子（阴极）射线管，是电视接收机监视器重现图像的关键器件。它的主要作用是将发送端（电视台）摄像机摄取转换的电信号（图像信号）在接收端以亮度变化的形式重现在荧光屏上。
X线胶片是为X射线照相而设计的照相胶片。大致分为直接摄影用(增感屏型和无增感屏型)和间接摄影用胶片两类。
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